8 inch silisium wafer P/N-type (100) 1-100Ω dummy reclaim substraat

Koarte beskriuwing:

Grutte ynventarisaasje fan dûbelsidige gepolijst wafels, alle wafels fan 50 oant 400mm yn diameter As jo spesifikaasje net beskikber is yn ús ynventarisaasje, hawwe wy lange termyn relaasjes oprjochte mei in protte leveransiers dy't yn steat binne om wafels oan te passen om elke unike spesifikaasje te passen.Dûbelsidich gepolijst wafels kinne brûkt wurde foar silisium, glês en oare materialen dy't faak brûkt wurde yn 'e semiconductor-yndustry.

Stjoer e-mail nei ús

Produkt Detail

Produkt Tags

Yntrodusearje fan wafer box

De 8-inch silisium wafer is in gewoan brûkt silisium substraatmateriaal en wurdt in protte brûkt yn it fabrikaazjeproses fan yntegreare circuits.Sokke silisiumwafels wurde faak brûkt om ferskate soarten yntegreare circuits te meitsjen, ynklusyf mikroprozessors, ûnthâldchips, sensors en oare elektroanyske apparaten.8-inch silisium wafers wurde faak brûkt om chips fan relatyf grutte maten te meitsjen, mei foardielen ynklusyf in grutter oerflak en de mooglikheid om mear chips te meitsjen op ien silisium wafer, wat liedt ta ferhege produksje-effisjinsje.De 8-inch silisium wafer hat ek goede meganyske en gemyske eigenskippen, dy't geskikt is foar grutskalige yntegreare circuitproduksje.

Produkteigenskippen

8" P/N type, gepolijst silisium wafer (25 st)

Oriïntaasje: 200

Resistiviteit: 0.1 - 40 ohm•cm (It kin ferskille fan batch nei batch)

Dikte: 725+/-20um

Prime / Monitor / Testklasse

MATERIAAL EIGENSCHAPPEN

Parameter	Karakteristyk
Type/Dopant	P, Boron N, Fosfor N, Antimoan N, Arseen
Oriïntaasjes	<100>, <111> snije oriïntaasjes ôf per spesifikaasjes fan klant
Oxygen ynhâld	10¹⁹ppmA Oanpaste tolerânsjes per klant spesifikaasje
Koalstof ynhâld	< 0,6 ppmA

MEGANYSKE EIGENSKIPPEN

Parameter	Prime	Monitor / Test A	Toets
Diameter	200±0,2 mm	200 ± 0,2 mm	200 ± 0,5 mm
Dikte	725±20µm (standert)	725±25µm (standert) 450±25µm 625±25µm 1000±25µm 1300±25µm 1500±25 µm	725±50µm (standert)
TTV	< 5 µm	< 10 µm	< 15 µm
Bôge	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
Wrap	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
Rûning	SEMI-STD
Markearje	Primêr SEMI-Flat allinne, SEMI-STD Flats Jeida Flat, Notch

Parameter	Prime	Monitor / Test A	Toets
Front Side Criteria
Surface condition	Chemical Mechanical Polished	Chemical Mechanical Polished	Chemical Mechanical Polished
Oerflak Roughness	< 2 A°	< 2 A°	< 2 A°
Fersmoarging Partikels@ >0,3 µm	= 20	= 20	= 30
Haze, Pits Oranje skil	Gjin	Gjin	Gjin
Sjoch, Marks Striations	Gjin	Gjin	Gjin
Back Side Criteria
Barsten, kraaienfuotten, seachmerken, vlekken	Gjin	Gjin	Gjin
Surface condition	Caustic etste